低価格平面基板透過率/反射率計測ユニット LV-RTM

非常にコンパクトかつ低価格な
平面基板透過率/反射率計測ユニットです。

卓上に設置可能な非常にコンパクトな平面基板透過率/反射率計測ユニットです。
積分球を使用することにより、低価格ながら「簡単に」「誰でも」「再現性良く」測定する事が出来ます。
また、試料の厚み変化や傾きにも影響が少ない計測方法となっています。
<特徴>
 ・OD値(吸光度)も測定可能。
 ・CIE、UCSマップより、目で見て色を判別可能。
 ・遮光フードにより、外乱光をカット。

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■仕様 
計測波長 380nm〜1000nm(ハロゲンランプ)
※300nm〜の領域については別途ご相談ください
測定内容 LV-RTM(R) 反射率
LV-RTM(T) 透過率
LV-RTM(RT) 反射率/透過率
繰り返し再現性 ±1%(380nm〜400nm)
±0.5%(400nm〜800nm)
±1%(800nm〜1000nm)
反射基準 BK7基準板、アルミ高反射基準板(LVにての校正値付き)
透過基準 10%、50%透過率基準フィルタ(LVにての校正値付き)
ソフトウェア 透過率、反射率、OD、測色(XYZ、xy、L*a*b* 等)

■詳細 
@遮光フードにより、外乱光をカット。
Aサンプル落下防止板設置。





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